β-Ga₂O₃ Субстраты: характеристики, рост и применение

β-Ga₂O₃ Субстраты: характеристики, рост и применение

β-Ga₂O₃ Подложки для устройств DUV для обнаружения и излучения

Поделиться


β-фазный оксид галлия (β-Ga₂O₃) обладает сверхширокой забороченной щелью примерно 4,9 эВ, высоким пробоем электрического поля и выдающейся радиационной устойчивостью. Эти свойства позволяют ему поддерживать отличные характеристики в условиях сурового радиации, демонстрируя большой потенциал применения в аэрокосмической, ядерной промышленности и других областях. Power Wafertech Group поставляет субстраты β-Ga₂O₃ с ориентациями (100), (010), (001) и (201). Подробные характеристики следующие:

1. Технические характеристики субстрата на основе бета-оксида галлия

Предмет Ориентация Размер (мм) Толщина (мм) UID сопротивления (Ω·см) Сопротивление Sn (Ω·см) Сопротивление Mg/Fe (Ω·см) Флэт FWHM DCRC (arc sec) Плотность дислокаций (см⁻²) Поверхностная отделка (nm) Отклонение ориентации
Квадрат β-Ga₂O₃ (100) 10 ± 0.2 × 10.5 ± 0.2 0.5 (± 0.02) 0.1~0.9 0.01~0.07 ≥10¹⁰ Длинный край вдоль направления [010] ≤150 SSP/DSP; Ра
(010) 10 ± 0.2 × 10.5 ± 0.2 0.5 (± 0.02) 0.1~0.9 0.01~0.07 ≥10⁸ Длинный край вдоль направления [010] ≤150 SSP/DSP; Ра
(010) 20 ± 0.2 × 21 ± 0.2 0.5 (± 0.02) 0.1~0.9 / ≥10⁸ Длинный край вдоль направления [010] ≤150 SSP/DSP; Ра
(001) 10 ± 0.2 × 10.5 ± 0.2 0.5 (± 0.02) 0.1~0.9 0.01~0.07 ≥10⁸ Длинный край вдоль направления [010] ≤250 SSP/DSP; Ра
(201) 10 ± 0.2 × 10.5 ± 0.2 0.5 (± 0.02) / 0.01~0.07 / Длинный край вдоль направления [010] ≤150 SSP/DSP; Ра
Раунд β-Ga₂O₃ (100) 50.8 ± 0.5 0.5 ± 0.02 0.1~0.9 / ≥10⁸ [010] направление ≤150 SSP/DSP; Ра
(100) 100 ± 0.5 0.5 ± 0.02 0.1~0.9 0.01~0.07 ≥10¹⁰ [010] направление ≤150 SSP/DSP; Ра
(100) 150 ± 0.5 0.8 ± 0.02 0.1~0.9 0.01~0.07 / [010] направление ≤200 SSP/DSP; Ра

2. Фазовая стабильность и кристаллическая структура Ga₂O₃

Оксид галлия состоит из пяти аллотропов: α, β, γ, δ и ε, среди которых β-Ga₂O₃ является наиболее термодинамически стабильным. При нагреве до достаточно высоких температур все остальные метастабильные фазы превращаются в β-фазу, которая является исключительной фазой при температуре плавления (~1800°C). Свободные от образования энергии различных фаз удовлетворяют: β

Рис. 1 — Диаграмма фазового перехода Ga₂O₃.

β-Ga₂O₃ — единственная фаза Ga₂O₃, которую можно массово производить эффективно и с низкой стоимостью с помощью методов расплава. Кристаллическая структура моноклинна, пространственная группа C2/m, с постоянными решётки: a = 12,23(2) Å, b = 3,04(1) Å, c = 5,80(1) Å, α = γ = 90°, β = 103,7(3)°. Каждая ячейка содержит два неэквивалентных Ga-сайта (GaI., GaII.) и три неэквивалентных O сайта (OI., OII., OIII.). GaI. находится в слегка искажённой тетраэдрической координационной среде, связанной с четырьмя атомами кислорода; Галл. находится в сильно искажённой октаэдрической среде, связанной с шестью атомами кислорода. OI. и OII. оба имеют трёхкоординированную связь: OI. связи с двумя GaI. и одной GaII, а OII. связи с тремя GaII... OIII. — четырёхскоординированный, соединяется с двумя галами и двумя галами... Эта искажённая структура решётки не только обеспечивает β-Ga₂O₃ подложку высокой термодинамической стабильностью и отличной механической прочностью, но и приводит к значительной анизотропии поверхностной энергии, теплопроводности и подвижности носителей на различных кристаллографических плоскостях.

3. Методы роста однокристаллов для оксида галлия

Примерно 50% стоимости полупроводниковых продуктов Ga₂O₃ приходится на производство подложок, а ключ к изготовлению подложок заключается в выборе метода выращивания монокристаллов. Основные существующие методы роста включают выращивание с определёнными краями (EFG), Чохральски (CZ), вертикальный Бриджман (VB), плавающую зону (FZ), верней, отливку и выращивание оксидных кристаллов из холодного тигла (OCCC). У каждого метода есть свои плюсы и недостатки, но только EFG была индустриализирована. Таблица 1 сравнивает технические характеристики нескольких основных методов роста.

Таблица 1. Сравнение основных методов роста однокристаллов β-Ga₂O₃

Метод роста Максимальный размер кристалла Направление роста Атмосфера Крусибл Ключевые преимущества Основные ограничения
CZ 2 дюйма [010] Ограниченный O₂ Иридий Зрелый процесс, лёгкое масштабирование; контролируемая концентрация допинга; пригоден для массового производства. Интерфейс расплав-кристалл подвержен искажениям, ограничивая расширение диаметра более 6 дюймов.
EFG 6 дюймов [010] Ограниченный O₂ Иридий ИК-кристалл обеспечивает стабильное тепловое поле; может выращивать кристаллические ленты диаметром 6 дюймов со сложными сечениями; Высокая скорость роста (5–10 мм/ч). Сильная зависимость от дорогих инфракрасных тигель; Высокие инвестиции в оборудование и эксплуатационные расходы.
OFZ 1 дюйм Различные направления Различные O₂ Без тигель Нет тигли для предотвращения загрязнения чужеродными металлами; чрезвычайно высокая чистота кристаллов, низкая плотность дислокаций. Диаметр обычно ≤1 дюйм; требуется стабильный рост в атмосфере высокого вакуума или высокой чистоты O₂/Ar.
VB 6 дюймов Различные направления Авиация Pt-30%Rh Может расти непосредственно в воздухе (тигель Pt-Rh/Ir); хорошая изотропия кристаллов; Масштабируемый до 6 дюймов. загрязнение растворением резусной и инфракрасной кислоты; Узкие окна для температурного градиента и скорости вытягивания.
OCCC 2 дюйма [010] Авиация Медь Водяное охлаждение из медного тигла заменяет тигли из драгоценных металлов, стоимость которой снижена на ~40%; регулируемой частотой для достижения теплового поля и формы интерфейса, подобного CZ; Высокая кристаллическая чистота. Нестабильная конвекция расплава; сложно подготовить электрически изолирующие кристаллы; Конструкция глубокого тигла (>50 мм) создаёт проблемы с устойчивостью.

4. Проблемы обработки подложки β-Ga₂O₃

Высокоточные, низкоповреждённые субстраты являются основой высокопроизводительных устройств. β-Ga₂O₃ — типичный материал, трудный для обработки благодаря своей высокой химической инертности, твёрдости и хрупкости, значительной анизотропии и выраженным расщепленным характеристикам. Механическое поведение заметно варьируется на разных кристаллических плоскостях: при одной и той же нагрузке глубина повреждения на плоскости (001) примерно вдвое превышает плоскость (100); Диапазоны глубины резки наноуглубины на плоскостях (010) и (100) составляют соответственно 96,5–576,8 нм и 84,6–421,6 нм. Микростолбовые компрессионные тесты также подтверждают значительные различия в напряжении и деформации перелома между плоскостями (200), (001) и (010).

Эти характеристики приводят к таким проблемам, как хрупкое отслаивание, распространение трещин и низкая скорость полировки во время обработки. Исследования показывают, что направление 105° внутри плоскости (010) Ga₂O₃ является наиболее пригодным для обработки ориентацией, обеспечивая более стабильное удаление материала и меньше повреждений; поэтому рекомендуется использовать плоскость (010) в качестве предпочтительной обработочной поверхности. Разработка ориентированных процессов и адаптация систем химической механической полировки (CMP) являются ключом к высокому качеству изготовления пластин β Ga₂O₃.

5. Приложения пластин Beta Ga₂O₃

Основываясь на вышеуказанных свойствах материала и возможностях обработки подложки, β-Ga₂O₃ демонстрирует уникальные преимущества в нескольких областях оптоэлектронных устройств.

5.1 Глубокое УФ-фотодетектирование

Отсечная длина волны β-Ga₂O₃ находится в области глубокого ультрафиолетового (DUV) диапазона 250–280 нм, практически без отклика на видимый и инфракрасный свет, что позволяет высоко избирательно и низко фоновое обнаружение DUV.

5.2 Обнаружение ядерного излучения

β-Ga₂O₃ обладает высокой плотностью 6,44 г·см⁻³ и отличными сцинтилляционными свойствами, что позволяет эффективно обнаруживать α, β, γ частицы и нейтронное излучение. Он поддерживает долгосрочную стабильную работу в условиях высокодозированного излучения и демонстрирует высокую устойчивость к радиационному повреждению.

5.3 Дополнительные применения

Кроме того, β-Ga₂O₃ обладает выдающейся механической прочностью и химической коррозиейной устойчивостью, что делает его перспективным для высокотемпературного датчика, коррозионно-устойчивых фотонных устройств и электроники в экстремальных условиях.

Обсудите с нашей командой требование субстрата β-Ga₂O₃

Power Wafertech поставляет высококачественные субстраты β-Ga₂O₃ и эпитаксиальные решения, адаптированные к вашим техническим характеристикам. Свяжитесь с ними, чтобы узнать ориентации, типы легирования и варианты геометрии пластин для вашего следующего проекта.

Свяжитесь с нашей командой
Часто задаваемые вопросы по статьям

Вопросы, часто поднимаемые при проверке спецификаций

Начните с материала, диаметра, ориентации, толщины, электрических требований, состояния поверхности и предполагаемого этапа применения или процесса.
Индивидуальные требования могут рассматриваться с учётом доступности материалов, объема обработки, требований к тестированию и объёма программы.
Согласуйте спецификацию образца, метод инспекции, процесс последующей процедуры и критерии приёмки перед сравнением результатов.
Доступная документация должна быть подтверждена для каждого продукта и заказа, включая соответствующие инспекции или записи о партиях.

Нужна помощь с переводом приложения в спецификацию пластин?

Отправьте свои требования для технического обзора и предложения.

Связаться с нами
Электронная почтаvictorchan@powerwafertech.com Телефон+86-592-5633652